TLP測試與普通ESD測試的優點

波形定義明確

ESD發生器的標準中，電路和波形的定義都有太多不確定因素(沒有測試路徑的阻抗控制只有特性時間內30%的容差…)。這使得不同的ESD發生器在不同的測試條件下會得到非常不同的ESD測試結果。TLP脈沖的波形干凈一致。

測試裝置一致性高

手持ESD發生器可能導致測試裝置的不一致，然而，TLP測試的夾具能夠提供更易控制的測試裝置。

測試效率

TLP測試有全自動化控制的脈沖，DC漏電流，I-V 曲線實時更新和故障自動檢測。自動快速測試，可生成報告!

便于分析整改

從TLP測試中可以提取DUT的許多有用瞬態特性信息，可用于設備的分析，為ESD分析和設計提供重要信息，而傳統的ESD測試只能得到用于Pass/Fail的結果。

TLP測試應用

 評估ESD保護器件性能(比較動態阻抗R.和鉗位速度)

 評估設備和模塊的ESD失效等級

當需要不同的脈沖形狀(TLP,HMM, HBM .),脈沖寬度，上升時間 或者不同的電流注入等級(40A, 90A,160A ..)時，可使用TLP測試

 評估安全工作區域

TLP可提供各種不同范圍的脈沖寬度和注入等級

 觸摸板的擊穿和熔斷敏感度

TLP可提供不同的脈沖注入和測量

TLP測試標準要求

標準TLP(STM5.5.1-2014)

• 0.2 至 10ns 上升時間

• 10ns 至 ms級脈沖寬度(典型值為100ns)

• 至少200MHz帶寬示波器

• 至少200MHz帶寬電壓探頭至少200MHz帶寬電流探頭

超快TLP(SP5.5.2-2007)

• 典型值:<=200ps 上升時間

• 1ns-10ns 脈沖寬度

• 至少2.5GHz帶寬，5Gsa/s采樣率示波器

• 至少1GHz帶寬電壓探頭

• 至少2GHz帶寬電壓探頭

測試方法：

在TVS器件兩端施加一個納秒級方波(電流波），測量器件通過方波相應電流時器件兩端電壓。（模擬TLP-Transmission Line Pulse的測試結果）

測試系統結構及原理

在上述系統中，分流電阻的典型值是53~562Ω，作用是抵消由包括DUT在內的并聯電路帶來的50Ω不匹配電阻。500Ω電阻的作用:一個串聯到DUT的500~1000Ω電阻來提供恒定的電流，定義為TLP-500或TLP-1000系統，在許多系統里，串聯電阻的取值范圍為450~500Ω。

脈沖波形

TLP測試系統配置

• 脈沖發生器 --生成 TLP/VF-TLP/HMM/HBM 等.

• 設備測量探頭 -- PCB對應的SMA接頭，IC測試夾具，探針臺

• 電流和電壓測量方法 -- 探頭直接測量

• 瞬態數據獲取 -- 示波器(帶寬由應用范圍決定)

SKS-TLP4K系統的優勢

價格：目前大多數商用TLP系統都來自于進口品牌，價格為4萬至25萬美元之間，我公司自主研發的這款TLP測試儀采用進口水銀開關國內全自助安裝加工，價格上有很大優勢（相同規格價格只有進口品牌1/4）。

性能：經過多次對比和改進，目前我公司的TLP測試系統已經能完全滿足測試需求，完全可以替代進口品牌。

SKS-TLP4K脈沖發生器技術規格

• 設備可以穩定輸出單脈沖方波上升時間T_R≤1ns，脈寬T_P范圍為50ns至100ns可調

• 電壓幅度范圍：0.2V~4000V (步進：10V可調)

• 限流電阻：500Ω/100Ω

• 電流幅度：500Ω限流電阻：0.2A-4A

• 100Ω限流電阻：1A-20A

• 脈沖間隔: 單次 1s/次 10s/次

• 自動步進功能

  
  

SKS-TLP4K相關波形實測圖(24VATVS)

相關配套

互感器：泰克的ct1或者ct2

示波器：1G帶寬或更高